21.11.2017 |
Doktorand der THD erhält Best Paper Award in Bordeaux
Im Rahmen der führenden europäischen Konferenz für Zuverlässigkeit und Fehlerphysik elektronischer Bauelemente (ESREF) wurde Tobias Berthold, Doktorand an der Technischen Hochschule Deggendorf (THD), mit dem höchsten Preis ausgezeichnet. Er überzeugte mit seinen wissenschaftlichen Arbeiten ein unabhängiges Expertengremium und darf nun im kommenden Frühjahr seine Ergebnisse in San Francisco präsentieren.
„Tobias Berthold hat mit dieser Auszeichnung einen der renommiertesten Preise bekommen, der je an einen Nachwuchswissenschaftler der THD vergeben wurde“, berichtet Günther Benstetter, Professor an der THD und Leiter der Forschungsgruppe Mikro- und Nanoanalytik. Als Mitglied dieser Forschungsgruppe beschäftigte sich Tobias Berthold mit einer neuartigen Technologie zur Verwendung von Kupfer in integrierten elektronischen Schaltungen (IC). Die international bekannte Forschungsgruppe zählt mit ihren über 70 wissenschaftlichen Publikationen in renommierten Zeitschriften und Buchbeiträgen zu den forschungsstärksten Teams der THD. Mit den erfolgreichen Ausarbeitungen von Tobias Berthold bewarb sich das Forscherteam für einen Beitrag auf der ESREF (European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis), die dieses Jahr in Bordeaux stattgefunden hat. „Dass ich dann gleich mit dem Best Paper Award ausgezeichnet werde, hat mich wirklich überwältigt“, freut sich Tobias Berthold immer noch. Der Best Paper Award zeichnet den besten Beitrag einer Konferenz aus. Für Tobias Berthold ist damit eine Einladung nach San Francisco zur weltweit führenden Konferenz auf diesem Gebiet verbunden. Seine Promotion schloss er in Kooperation mit der spanischen Universität „Universitat Autonoma de Barcelona“ ab. Betreut wurde er von den Deggendorfer Professoren Benstetter und Frammelsberger. Insgesamt arbeitete Tobias Berthold über 4 Jahre daran. Seit November ist er in Regensburg bei Osram Opto Semiconductors tätig.
17. November 2017 | THD-Pressestelle (TK)